Workshop TuZ 2024

36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

25. bis 27. Februar 2024

Der Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“, veranstaltet von der Gesellschaft für Informatik, der VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik sowie der Informationstechnischen Gesellschaft im VDE, ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu diskutieren. Der Austausch von Ideen ist ein wichtiges Anliegen des Workshops.

Beiträge / Call for Papers

Erwünscht sind sowohl Beiträge aus der industriellen Praxis als auch von Forschungseinrichtungen. Wir begrüßen stark praxisbezogene Erfahrungsberichte und Ergebnisse ebenso wie Beiträge zu theoretischen Themen.

Beiträge zu folgenden und weiteren Themen werden erbeten:

  • Adaptive Systeme (z.B. Selbstreparatur, self-healing, self-awareness)
  • Automatisches Test-Equipment, Testautomatisierung, Testprogramme und Testmodellierung
  • Defekt- und Fehlermodellierung
  • Diagnose von Ausfallursachen
  • Fehlertoleranz, Resilienz, robuste und strahlenresistente Systeme
  • Funktionale Sicherheit
  • Hardware-orientierter Test und Hardware-orientierte Sicherheit
  • Statistische und maschinelle Lernverfahren für Test und Zuverlässigkeit
  • Systemtest und -zuverlässigkeit
  • Test und Simulation von Mixed-Signal, HF- und Analog-Schaltungen
  • Testerzeugung, Fehlersimulation, Selbsttest und Online-Test
  • Testgerechter Entwurf, DFT Methodik
  • Testkosten und Qualität
  • Teststandards, z.B. IEEE 1149.x, IEEE 1687.x, IEEE P1838

Zusammenfassung ihres Beitrags im Umfang von maximal 2 Seiten über die Workshop-Homepage einzureichen. Der Beitrag sollte den Zweck der Arbeit, den Neuigkeitsgehalt und Aspekte der Anwendung beschreiben. Angenommene Beiträge werden auf Wunsch in den informellen Workshop-Handout aufgenommen. Hierzu kann der Beitrag auf 4 Seiten erweitert werden.

Einreichung von Beiträgen

  • kompakte Darstellung der Forschungsergebnisse
  • maximal 2 Seiten (DIN A4) inkl. Bilder und Literaturverzeichnis
  • angenommene Beiträge werden automatisch in den Tagungsband (ohne ISBN) aufgenommen. Diese können auf bis zu 4 Seiten erweitert werden.
  • Website für Einreichungen: easychair.org

Druckfertige Endfassung

  • Einreichung als PDF Datei (2-4 Seiten, DIN A4)
  • IEEE Vorlagen werden empfohlen
  • Bitte nutzen Sie keine Seitenzahlen und keine Kopfzeilen, Schriftarten müssen eingebettet sein und Bilder sollen in ausreichender Druckqualität vorliegen.

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Reguläre Vorträge

Reguläre Vorträge sollten ca. 20 Minuten dauern. Anschließend bleiben 5 Minuten Zeit für Fragen. Vortragende sollten Ihre Präsentation als PDF- oder PowerPoint-Dokument vorbereiten. Die Präsentationen können vor Ort auf den Präsentationsrechner kopiert werden.

Poster

Autoren von Beiträgen, die als Poster akzeptiert wurden, sollten ein Poster (DIN A0, Hochformat) vorbereiten und max. 2 Inhaltsfolien, um das Poster in einem max. 7-minütigen Pitch vorzustellen. Die Präsentationsfolien können vor Ort auf den Präsentationsrechner kopiert werden.

Registrierung

Die Registrierung für den TuZ-Workshop erfolgt über die VDE-Webseite.Zur Registrierung

Für Studierende und Stipendiaten (Stipendiumsempfänger ohne regulären Arbeitsvertag) ist eine Teilnahme zu besonders günstigen Konditionen möglich.

Hotel Sonderpreis Vereinbarung 2024

In Zusammenhang mit TuZ 2024, hat die TU Darmstadt Sonderkonditionen für Übernachtungen mit folgenden Hotels ausgehandelt:

  • Maritim Hotel
  • Welcome Hotel
  • Intercity Hotel
  • Felix Hotel
  • THE Darmstadt.

Details erhalten Sie beim Sekretariat des IES

Übersicht Registrierungsoptionen

Teilnahmeart Anmeldegebühren
(Frühbucher bis einschl. 28. Januar 2024) 		Anmeldegebühren
(Anmeldung ab 29. Januar 2024)
Mitglied VDE/VDI/GI/GMM* EUR 290,00 € EUR 330,00 €
Nichtmitglied EUR 320,00 € EUR 360,00 €
Studierender/Stipendiat* (nicht Promotionsstudierender) EUR 80,00 € EUR 120,00 €

* Ermäßigung nur bei Übersendung einer Kopie des VDE/VDI/GI-Mitgliedsausweises bzw. des Studentenausweises/Stipendiatennachweises.

Die Tagungsgebühren beinhalten den gedruckten Tagungsband, Pausengetränke, Mittag- & Abendessen sowie die Abendveranstaltung. Der Tagungsausweis und die Tagungsunterlagen werden vor Ort ausgegeben.

Der Workshop findet im Georg-Christoph-Lichtenberg-Haus der TU Darmstadt statt.

Anreise

Dieburger Straße 241, 64287 Darmstadt

Anreise zum Georg-Lichtenberg-Haus

Hotel

Im Welcome Hotel ist ein Zimmerkontingent für die Teilnehmer der TuZ 2024 reserviert. Zimmer können hier mit dem Stichwort „TUZ24“ gebucht werden.

Mitglieder des Programmkomitees:

  • J. Alt, Infineon Technologies AG
  • H. Amrouch, TU München
  • B. Becker, Universität Freiburg
  • R. Drechsler, Uni Bremen und DFKI
  • S. Eggersglüß, Siemens Digital Industries Software
  • P. Engelke, Infineon Technologies AG
  • G. Fey, TU Hamburg
  • A.-P. Fonseca Müller, Bosch Sensortec GmbH
  • M. Gössel, Universität Potsdam
  • S. Hellebrand, Universität Paderborn
  • K. Hofmann, TU Darmstadt
  • S. Holst, Kyushu Institute of Technology
  • W. Hoppe, Rheinmetall AG
  • S. Huhn, Siemens Digital Industries Software
  • M. Kampmann, Siemens Digital Industries Software
  • R. Krenz-Baath, Hochschule Hamm-Lippstadt
  • M. Krstic, Uni Potsdam und IHP GmbH
  • V. Petrovic, HDL Design House
  • L. Bolzani Poehls, RWTH Aachen
  • I. Polian, Universität Stuttgart
  • F. Pöhl, Frank Poehl Consulting
  • S. Sattler, Uni Erlangen-Nürnberg
  • M. Sauer, Advantest Europe GmbH
  • M. Schillinsky, NXP Semiconductors Germany GmbH
  • H. Schmidt, IBM Deutschland GmbH
  • M. Schölzel, Hochschule Nordhausen
  • J. Sepulveda, Airbus Defence and Space
  • M. Tahoori, KIT
  • D. Tille, Infineon Technologies AG
  • M. Wahl, Universität Siegen
  • H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart
Sonntag 25.02.2024
18:00 – 20:00 Abendessen
Restaurant Grohe
Nieder-Ramstädterstr. 3
64283 Darmstadt
20:00 – 21:30 Öffentliche Sitzung der GI/GMM/ITG-Fachgruppe „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“
TU Darmstadt
Fachgebiet IES
S3|06 346
Merckstr. 25
64283 Darmstadt
Montag 26.02.2024
7:30 – 8:30 Registrierung
Gästehaus Georg-Christoph-Lichtenberg
Dieburger Straße 241
64287 Darmstadt
8:30 – 9:40 Eröffnung & Keynote I
Chair: Ilia Polian, Institute for Computer Architecture and Computer Engineering, University of Stuttgart
„Testen – ein Blick zurück und voraus“
Bernd Becker
Universität Freiburg, Freiburg, Deutschland
Kaffeepause
10:10 – 11:25 Session 1 – Fehlertoleranz und Sicherheit
Chair: Jürgen Alt, Infineon Technologies AG, Neubiberg
Ein Ansatz zur Optimierung konfigurierbarer fehlertoleranter Systeme
Markus Ulbricht* und Milos Krstic*^
* IHP – Leibniz-Institut fur innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder), Deutschland
^ Universität Potsdam, Potsdam, Deutschland
Employing Optical Beam-induced Current Measurement in Side-channel Analysis
Dmytro Petryk*, Ievgen Kabin*, Jan Bělohoubek^§, Petr Fišer^, Jan Schmidt^, Milos Krstic*° und Zoya Dyka*~
* IHP – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder), Germany
^ Czech Technical University, Prague, Czech Republic
§ University of West Bohemia, Pilsen, Czech Republic
° University Potsdam, Potsdam, Germany
~ BTU Cottbus-Senftenberg, Cottbus, Germany
Enhancing Resilience against Sequential Attacks on Logic Locking using Evolutionary Strategies
Marcel Merten*, Mohammed Djeridane*, Muhammad Hassan*^, Niladri Bhattacharjee§, Jens Trommer§, Thomas Mikolajick§° und Rolf Drechsler*^
* University of Bremen, Germany
^ Cyber-Physical Systems, DFKI GmbH, Bremen, Germany
§ NaMLab gGmbH, Dresden, Germany
° TU Dresden, Dresden, Germany
11:25 – 12:40 Session 2: Entwurf für Testbarkeit
Chair: Rene Krenz-Baath
Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences
An Evolutionary Approach to Reconfigurable Scan Network Design
Payam Habiby*, Fatemeh Shirinzadeh* und Rolf Drechsler*^
* Cyber-Physical Systems, DFKI GmbH
^ University of Bremen, Germany
Accelerating IJTAG Network Operations With FastIJTAG
Matthias Kampmann*
* Siemens Digital Industries Software, Hamburg, Germany
The Capabilities of Functional Path Ring Oscillators for Performance Screening
Tobias Kilian*^, Daniel Tille*, Martin Huch* und Ulf Schlichtmann^
* Infineon Technologies AG, Neubiberg, Germany
^ Chair of Electronic Design Automation, Technical University of Munich, Munich, Germany
12:40 – 13:30 Mittagessen
13:30 – 14:00 Poster 1 / Pitch Session 1:
Chair: Sebastian Huhn, Siemens EDA GmbH
A predictive neural network for test time and cost reduction
Lisa Taubensee*, Yiwen Liao*, Matthias Sauer* und Sarah Rottacker*
* Applied Research and Venture Team, Advantest Europe GmbH, Germany
Combining Stochastic Computing and Adversarial Attack Detection to Protect Neural Network Inference Hardware
Chandramouli Amarnath*, Florian Neugebauer^, Ilia Polian^ und Abhijit Chatterjee*
* Department of ECE, Georgia Institute of Technology
^ Institute for Computer Architecture and Computer Engineering, University of Stuttgart
ATPG-Based Die-to-Die Interconnect Test Coverage in 3D Stacked ICs(PhD Forum)
Naim Lemar, Racyics GmbH
Software-based Self-Test Generation for RISC-V
Tobias Faller*, Bernd Becker*
* University of Freiburg, Department of Computer Science – Freiburg, Germany
(accompanying keynote 1 with poster only)
14:00 – 14:45 Poster-Session 1 & Kaffeepause
14:45 – 16:00 Session 3 – Zuverlässigkeit
Chair: Matthias Kampmann, Siemens EDA GmbH
Modeling Crosstalk-induced Interconnect Delay with Polynomial Regression
Alisa Stiballe*, Jan Dennis Reimer*, Somayeh Sadeghi Kohan* und Sybille Hellebrand*
* Computer Engineering Group EIM/E, Paderborn University, Germany
Crosstalk-Aware Simulation of Interconnects Using Artificial Neural Networks
Magdalina Ustimova*, Somayeh Sadeghi-Kohan* und Sybille Hellebrand*
* Paderborn University, Germany
Analysing Transistor Aging Impact on the Behavior of RRAM Cells
Seyed Hossein Hashemi Shadmehri*, Thiago Santos Copetti* und Letícia Maria Bolzani Poehls*
* Chair of Integrated Digital Systems and Circuit Design, RWTH Aachen University Aachen, Germany
16:00 Abfahrt im eigenen Bus zum
GSI Schwerionenforschung GmbH.
Nach der Besichtigung fährt der Bus wieder zum Veranstaltungsort bzw. Hotel zurück.
Wichtig: Unbedingt Reisepass bzw. Personalausweis bereithalten. Ohne dies kein Einlass!
19:00 Treffen im Ratskeller
Marktplatz 8
64283 Darmstadt
Dienstag 27.02.2024
9:00 – 10:00 Keynote II
Chair: Klaus Hofmann, TU Darmstadt
„Form follows function – from LCD-TV to Molecular Electronics“
Peer Kirsch
Merck Electronics KGaA/TU Darmstadt, Deutschland
10:00 – 10:30 Poster 2 / Pitch Session 2
Chair: Payam Habiby, Cyber-Physical Systems, DFKI GmbH
Investigating the SEU influence on a selectively-hardened complex digital filter
Anselm Breitenreiter*, Thomas Lange^, Ernesto Pun§, Carsten Schulze*, Fabian Vargas* und Milos Krstic*
* IHP – Leibniz Institute for High Performance Microelectronics, Frankfurt Oder, Germany
^ Iroc Technologies, Grenoble, France
§ Arquimea Aerospace, Defense & Security Leganés, Spain
IPTC, ETSI Telecomunicación, Universidad Politécnica de Madrid, Spain
Tag-based Hardware Information Flow Tracking
Lutz Schammer*, Gianluca Martino* und Goerschwin Fey*
* Institute of Embedded Systems, Hamburg University of Technology, Hamburg, Germany
Verifikation von Analog Mixed-Signal Systemen unter Berücksichtigung von Variationen
Jan Rödel^, Carna Zivkovic^, Neha Chavan^, Frank Rethmeier^, Sören Kwasigroch* und Christoph Grimm*
^ NXP Semiconductors, Hamburg, Germany
* University of Kaiserslautern, Kaiserslautern, Germany
10:30 – 11:10 Poster-Session 2 & Kaffeepause
11:10 – 13:00 Session 4 – Testgenerierung und -ausführung
Chair: Mario Schölzel, HS Nordhausen
Large Language Models to Generate System-Level Test Programs Targeting Non-functional Properties
Denis Schwachhofer*°, Peter Domanski^, Steffen Becker*, Stefan Wagner*, Matthias Sauer§, Dirk Pflüger^ und Ilia Polian°
* Institute of Software Engineering, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany
^ Institute for Parallel and Distributed Systems, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany
§ Advantest Europe, Boeblingen, Germany
° Institute of Computer Engineering and Computer Architecture, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany
Automatisierte Ausführungsemulation von Testprogrammen für Sensorsysteme
Franziska Mayer*, Christian Schott*, Erik Markert* und Ulrich Heinkel*
* Professur für Schaltkreis- und Systementwurf, Technische Universität Chemnitz, Chemnitz, Deutschland
Design and validation of an FPGA adapter board for high-speed testing of DRAM memory ICs
Philipp Gebhart*, David Riehl* und Klaus Hofmann*
* Integrated Electronic Systems Lab, Technische Universitat Darmstadt, Germany
Evaluierung und Test von GNSS-Empfängern mit realen und synthetischen Satellitensignalen
Bjoern Bieske*, Stehr Uwe^, Matthias Hein^ und Syed N. Hasnain^
* IMMS GmbH, Ilmenau, Germany
^ TU Ilmenau / ThIMo, Ilmenau, Germany
13:00 – 13:15 Schlusswort
13:15 – 14:15 Mittagessen

Testen – ein Blick zurück und voraus

Bernd Becker
Universität Freiburg

Mikro- und Nanoelektronik sind Treiber unserer zunehmend digitalen und vernetzten Gesellschaft. Methoden zur Gewährleistung von Sicherheit und Zuverlässigkeit gewinnen noch mehr an Bedeutung.

Wir blicken daher zunächst zurück auf Probleme, Fragestellungen und Lösungs-ansätze, die uns im Bereich Testen und angrenzenden Gebieten seit 1985 beschäftigt haben und zeigen dann auf, inwieweit sie auch bei heutigen eingebetteten Systemen von Relevanz sind und welche (neuen) Herausforderungen und Chancen sich bieten.

Biographie

Bernd Becker erhielt das Diplom (1979) und den Doktortitel (1982) in Mathematik und Informatik von der Universität des Saarlandes in Saarbrücken, Deutschland. Von 1989-1995 war er an der J.W. Goethe-Universität Frankfurt als Professor für Komplexitätstheorie und effiziente Algorithmen tätig. Seit 1995 ist er Professor an der Universität Freiburg und war bis zu seinem Eintritt in den Ruhestand 2021 Leiter des Lehrstuhls für Rechnerarchitektur an der Technischen Fakultät.

Er hat mehr als 500 wiss. Arbeiten publiziert und mehr als 30 Doktoranden betreut, die heute führende Positionen in der Industrie und an Universitäten innehaben. Seine Forschungsaktivitäten liegen hauptsächlich im Bereich des computergestützten Entwurfs, des Tests und der Verifikation von (digitalen) Schaltungen und Systemen. In jüngerer Zeit hat er sich mit der Verifikation von Sicherheitsfragen für eingebettete Systeme und mit Testtechniken für nanoelektronische Schaltungen befasst. Er hat zahlreiche Drittmittelprojekte eingeworben, so war er von 2003 bis 2015 Co-Sprecher des Transregio-Sonderforschungsbereichs "Automatic Verification of Complex Systems (AVACS)“. Bernd Becker ist Fellow von IEEE und Mitglied von Academia Europaea.

Form Follows Function: From LCD-TV to Molecular Electronics

Peer Kirsch
R&D Fellow, Merck Electronics KGaA
Joint Industrial Professor, TU Darmstadt

Tunnel junctions based on liquid crystal-inspired self-assembled monolayers (SAM) show bistable and reversible resistance switching. Originally, this technology was developed for non-volatile memory, but it also has potential for application in neuromorphic computing. Fabrication and processing of SAM-based devices is extremely simple since the complexity of their functionality can be designed into the molecular building blocks. Whereas the first generation of devices exhibited a very noisy electrical current-voltage characteristics, the design of a new molecular scaffold resulted in clean and reversible resistance switching, which is potentially suitable for multi-level or even analog operation. Future activities are directed towards integrating SAM-based tunnel junctions into novel computational architectures for neuromorphic and quantum computing.

Biography

Peer Kirsch is currently R&D Fellow in the materials research department of Merck Electronics KGaA, Darmstadt, where he is responsible for the development of new materials for the electronics industry.
After studying chemistry at the University of Heidelberg he completed his doctoral thesis at the Max Planck Institute for Medical Research on a topic in bioorganic chemistry. In a subsequent postdoctoral stay at the RIKEN Institute in Japan as Feodor Lynen Fellow of the Alexander von Humboldt Foundation he worked on the synthesis of glycoconjugates. In 1995 he entered the Liquid Crystal division at Merck, where he focused on design and synthesis of fluorinated, nematic liquid crystals for display applications. In parallel to his industrial activities, he obtained in 2001 his habilitation at the University of Bremen. From 2005 to 2010 he established a liquid crystal application lab as well as a central R&D and business development unit at Merck Ltd. Japan in Tokyo. After his return to Germany, he extended his scientific interests to various other types of functional materials. His interests include organic semiconductors, multi-functional dyes, ionic liquids, self-assembled monolayers as well as the application of quantum chemical methods for materials design.
Since 2021, he is Joint Industrial Professor for Organic Electronics at the TU Darmstadt. Kirsch is author of more than 180 patents, numerous publications as well as a textbook on Fluoroorganic Chemistry.